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产品中心您当前的位置:首页 > 产品中心 > 功能材料测试仪器 > 高温介电温谱测试仪 > HCWP-s系列高低温介电温普仪
基础信息Product information
产品名称:

高低温介电温普仪

产品型号:HCWP-s系列

厂商性质:生产厂家

所在地:北京市

更新日期:2023-08-28

产品简介:

高低温介电温普仪概述:
本高频介电温谱系统主要用于绝缘材料在不同温度不同频率下的电学性能测试,系统包含高温炉膛, 阻抗分析仪,微电流表,夹具,测试软件于一体,可测试材料的介电常数,介质损耗,阻抗谱 Co-Co 图, 机电耦合系数等,同时可分析被测样品随温度,频率, 时间变化的曲线,测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。

产品特性Product characteristics
品牌华测

高低温介电温普仪特点:

  • 公司高温介电测试夹具、高温四探针夹具、高温两探针夹具,可与高温测试平台配套组成一套或多套高温阻抗、介电测量系统。

  • 温度范围从室温至 600℃、800℃、1000℃、1200℃,具备精确的 PID 控制算法,控温精度可到±1℃,确保温度控制不超调。提供 7 种不同控温方式,尽可能满足客户多种测试需求。

  • 高温介电测试夹具根据标准 ASTM D150 方法,采用平行板电极原理设计。电极由上电极、下电极以及保护电极组成。上下电有良好的同心度和平行度,保护电极可减少周围空气电容的影响,使得测试数据更加可靠。

  • 公司开发的高温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台、高温测试夹具与 WK6500 系列、Agilent(Keysight) 4294A/E4980A/E4990ATonghui TH2826/2827/TH2810Solartron 1260 LCR 测量设备无缝连接,实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外,还可根据用户提供的其他 LCR 品牌或型号完成定制需求。

  • 软件可根据实验方案设计,通过测量 CD 值,自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量,同时输出,测量效率高、数据丰富多样。

技术指标:

型号

HCJD-801

HCJD -802

HCJD -803

HCJD -804

温度范围

室温~600

室温~800

室温~1000

室温~1200

温度精度

±1

±1

±1

±1

测量精度

0.05%

0.05%

0.05%

0.05%

升温速率

10

10

10

10

控温方式

PID

PID

PID

PID

频率范围

20HZ-30MHZ

20HZ-30MHZ

20HZ-30MHZ

20HZ-30MHZ

电极材料

铂金

铂金

铂金

铂金

通道数

通道 1

通道 1

通道 1

通道 1

测量环境

常温真空气氛

常温真空气氛

常温真空气氛

常温真空气氛

通讯方式

USB

USB

USB

USB

设备尺寸

600X400X650mm

600X400X650m

600X400X650m

600X400X650m

应用领域:

  • 复合绝缘擦亮

  • 高分子绝缘材料

  • 无机绝缘材料

  • 有机绝缘材料

  • 其它绝缘材料等

  • 高低温介电温普仪功能特点:

测量精度高,精确控温,测量频率宽,抗交流干扰; 介电软件功能,拥有测量系统;

直接得出介电常数实部和虚部的比值曲线;

直接得出复阻抗实部和虚部比值曲线的 Cole-Cole 图; 直接得出机械品质因数 Qm;

集方案、测量、分析、数字化显示于一体集成化设计;


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